Solarization Resistant Probes
Extreme SR(180 – 800 nm) and SR (200 – 1100 nm)

UV-Visible (300 – 1100 nm) Visible-NIR (400 – 2100 nm)
내장 참조 다리가 있는 반사/후방산란 프로브는 광원의 스펙트럼 출력 변동이나 불안정성이 반사 스펙트럼에 영향을 줄 것으로 예상되는 장기 측정 및 실험을 위한 편리한 솔루션입니다.
프리미엄급 및 실험실급 모두 제공되는 이 프로브에는 두 번째 분광계를 통해 조명(또는 참조) 광원을 모니터링하기 위해 광원 커넥터에서 분리되는 참조 다리가 포함되어 있습니다.
샘플 측정을 위한 프로브 끝단의 6-어라운드-1 파이버 번들 설계
7개 파이버 다리는 광원에 연결, 단일 파이버 다리는 최적 성능을 위해 분광계에 연결
참조 모니터링을 위해 광원 커넥터에서 하나의 광섬유가 분리됨 (6-어라운드-1 설계)
프로브는 UV-가시광(300-1100 nm) 또는 가시광-NIR 파이버(400-2100 nm)로 구성
내장 참조 다리가 있는 반사/후방산란 프로브는 광원의 스펙트럼 출력 변동이나 불안정성이 반사 스펙트럼에 영향을 줄 것으로 예상되는 장기 측정 및 실험을 위한 편리한 솔루션입니다.
프리미엄급 및 실험실급 모두 제공되는 이 프로브에는 두 번째 분광계를 통해 조명(또는 참조) 광원을 모니터링하기 위해 광원 커넥터에서 분리되는 참조 다리가 포함되어 있습니다.
샘플 측정을 위한 프로브 끝단의 6-어라운드-1 파이버 번들 설계
7개 파이버 다리는 광원에 연결, 단일 파이버 다리는 최적 성능을 위해 분광계에 연결
참조 모니터링을 위해 광원 커넥터에서 하나의 광섬유가 분리됨 (6-어라운드-1 설계)
프로브는 UV-가시광(300-1100 nm) 또는 가시광-NIR 파이버(400-2100 nm)로 구성
Extreme SR(180 – 800 nm) and SR (200 – 1100 nm)
Probe assembly (300 – 1100 nm)
Probe assembly (400 – 2100 nm)
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