SOC-210

SOC-210 BRDF/BTDF 자동 측정 시스템

표면, 패널, 코팅, 액체 및 입자의 BRDF/BTDF 자동 측정

SOC-210 시스템은 표면, 코팅, 패널, 액체, 분말 및 입자 시료의 양방향 반사 분포 함수(BRDF) 와
양방향 투과 분포 함수(BTDF) 를 자동으로 측정하도록 설계되었습니다.
이 시스템은 BRDF 및 BTDF 데이터를 기반으로 재료의 광산란(BSDF) 특성을 정확하게 분석할 수 있으며,
반사·투과·산란 거동을 한 시스템에서 완전 자동화 방식으로 평가할 수 있습니다.

SOC-210은 정밀 제어된 기계식 구동 시스템과 고감도 검출기를 탑재하여
광범위한 스펙트럼 영역(자외선부터 장파장 적외선까지)에서의 측정을 지원합니다.
이를 통해 사용자는 반사율·투과율의 각도 의존성을 정밀하게 분석하고,
재료의 광학적 성능을 체계적으로 평가할 수 있습니다.

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주요 특징 (Core Benefits)

• 넓은 스펙트럼 범위 — 자외선(UV)부터 장파장 적외선(LWIR)까지 전 영역 측정
• 사용자 맞춤 필터 휠 — 파장 분리 및 스펙트럼 필터링을 위한 교체형 필터 구성
• 대형 및 소형 시료 모두 지원 — 다양한 형태의 표면, 액체, 분말 시료 측정 가능
• 정밀 각도 제어 — 입사각과 반사각을 0.1° 이내로 제어하는 고정밀 스테이지
• 저노이즈 검출 시스템 — 고감도 센서 탑재로 정밀 데이터 수집
• 완전 자동화 — 광원 제어, 필터 교환, 데이터 수집 및 저장을 포함한 전체 프로세스 자동화

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응용 분야 (Applications)

• 재료 및 코팅의 반사·투과·산란 특성 분석
• 반사 코팅 및 필름의 품질 평가 및 등급 분류
• 복합소재, 금속, 도료, 플라스틱 등의 표면 반사 특성 분석
• 디스플레이·조명·센서용 광학소자 성능 평가
• 난반사 및 투명 재료의 산란 모델링
• 항공, 방위산업 및 위성용 반사율 검증 시험

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완전 자동화 측정 (Fully Automated)

SOC-210은 소프트웨어 제어를 통해 모든 측정 단계가 자동으로 수행됩니다.
입사각, 반사각, 편광 조건, 파장 대역 등의 측정 파라미터는 프로그램 내에서 설정 가능하며,
스텝 모터 구동을 통해 높은 위치 정확도와 반복 측정의 재현성을 제공합니다.

사용자는 실험 시 단 한 번의 명령으로 시료 측정부터 데이터 저장까지 전체 과정을 수행할 수 있으며,
각 측정 결과는 즉시 그래프로 표시되어 분석 시간을 대폭 단축합니다.

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정밀 BSDF 측정 (Precise BSDF Measurements)

SOC-210은 BRDF 및 BTDF 측정 결과를 기반으로 BSDF(Bidirectional Scattering Distribution Function) 을 산출합니다.
BSDF는 입사각, 반사각, 파장의 함수로서 반사와 투과의 공간적 분포를 표현하는 방법으로,
SOC-210은 이를 정밀하게 측정하여 시료 표면의 광학적 거동을 수학적으로 기술할 수 있습니다.

각도 분포 데이터를 기반으로 반사·투과 패턴을 시각화하며,
광학 설계, 재료 비교, 표면 처리 효과 분석에 활용할 수 있습니다.

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BSDF 및 SOC-210의 파장 확장 구조 (Spectral Range Extends to MWIR and LWIR)

BSDF(Bidirectional Scattering Distribution Function) 은 입사각(광원 각도), 반사각(관측 각도),
그리고 파장의 함수로 반사 특성을 설명합니다.
따라서 표면의 반사 거동을 완전하게 기술하기 위해서는 가시광(VIS)에서 적외선(IR) 에 이르는
넓은 파장 범위와 포괄적인 각도 커버리지가 필요합니다.

SOC-210 BDR 시스템은 상용 장비 중 유일하게 장파장 적외선(Long Wave Infrared, LWIR) 영역까지 확장 가능한
고니오미터(goniometer)로, 0.35 µm에서 14 µm까지의 파장 범위를 지원합니다.

광원(Source)과 검출기(Detector) 모듈은 정밀 정렬된 상태로 사전 조립되어 있으며,
사용자는 별도의 정렬 과정 없이 모듈을 교체하여 파장대별 측정을 수행할 수 있습니다.

검출기 구성은 다음과 같습니다.

• Silicon (Si): 0.4–1.1 µm
• InGaAs: 1.0–1.7 µm
• InSb: 2.5–5.0 µm
• MCT (Mercury Cadmium Telluride): 7.0–14.0 µm

각 검출기는 자신의 피크 성능 대역에서 최적 감도를 발휘하며,
SOC-210 시스템은 이들 검출기를 통해 자외선부터 장적외선까지의 전 스펙트럼 BRDF 데이터 획득을 실현합니다.

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실시간 데이터 표시 (Live Data Display)

SOC-210은 측정 중 실시간 그래프 디스플레이를 제공하여
입사각, 반사각, 파장 변화에 따른 반사율 및 산란 특성을 시각적으로 확인할 수 있습니다.
데이터는 자동으로 저장되며, 분석용 파일로 즉시 내보내기(export)가 가능합니다.

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스펙트럼 필터링 (Spectral Filtering)

사용자 지정형 필터 휠(Filter Wheel) 은 파장대별 측정 조건을 제어하며,
특정 파장 선택, 스펙트럼 분해, 노이즈 억제를 위한 고정밀 광학 필터 구성이 가능합니다.
필터 휠은 빠른 회전 속도로 자동 전환되며, 측정 속도와 분해능 간의 균형을 최적화합니다.

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전문 기술 지원 (Expert Technical Support)

Surface Optics의 기술 엔지니어 팀은 SOC-210의 설치, 검교정, 사용자 교육,
및 하드웨어 업그레이드 지원을 포함한 전 주기 서비스를 제공합니다.
맞춤형 시스템 구성과 통합 소프트웨어 솔루션도 함께 제공되어
산업 및 연구 환경 모두에서 최적의 측정 효율성을 확보할 수 있습니다.